Joan edukira

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение Монография

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц нанопроволок нанотрубок трехмерных наноструктур квантовых точек магнитных наноматериалов фо...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Formatua: Монография
Edizioa:4
Sarrera elektronikoa:https://znanium.com/catalog/document?id=425485
https://znanium.com/cover/1984/1984948.jpg
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!