Пропуск в контексте

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение Монография

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц нанопроволок нанотрубок трехмерных наноструктур квантовых точек магнитных наноматериалов фо...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
פורמט: Монография
מהדורה:4
גישה מקוונת:https://znanium.com/catalog/document?id=425485
https://znanium.com/cover/1984/1984948.jpg
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!