Пропуск в контексте

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение Монография

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц нанопроволок нанотрубок трехмерных наноструктур квантовых точек магнитных наноматериалов фо...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Формат: Монография
Редакция:4
Online-ссылка:https://znanium.com/catalog/document?id=425485
https://znanium.com/cover/1984/1984948.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!