Пропуск в контексте

Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение Монография

В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в области нанотехнологий посвященные растровой электронной микроскопии (РЭМ). С помощью РЭМ можно изучать свойства наночастиц нанопроволок нанотрубок трехмерных наноструктур квантовых точек магнитных наноматериалов фо...

全面介绍

Сохранить в:
书目详细资料
格式: Монография
版:4
在线阅读:https://znanium.com/catalog/document?id=425485
https://znanium.com/cover/1984/1984948.jpg
标签: 添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!