Изучение локального химического строения поверхности плазмополимеризованной пленки пентана методом атомной силовой микроскопии

Dades bibliogràfiques
Autor principal:	Жихарев А.В
Format:	Статья
Accés en línia:	https://znanium.com/catalog/document?id=168782 https://znanium.com/cover/0503/503058.jpg
Etiquetes:	Afegir etiqueta Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!

Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
per: Волкова Е. В.
Publicat: (2014)

Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
per: Круглов А. В.
Publicat: (2022)

Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
per: Елманов Г. Н.
Publicat: (2011)

Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии монография

Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии монография
per: Моргунов Р. Б.
Publicat: (2018)

Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
per: Кузнецова Ю. В.
Publicat: (2023)

Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
per: Кузнецова, Ю. В.

Диэлектрические пленки для ИС
per: Саркаров Т. Э.
Publicat: (2021)

Исследование наноструктурированных материалов методом растровой электронной микроскопии учебно-методическое пособие для вузов
Publicat: (2014)

Основы анализа поверхности твердых тел методами атомной физики учебное пособие
per: Никитенков, Н. Н.

Получение промышленной продукции методом химического осаждения учебное пособие
per: Миролюбов, В. Р.

Локальная диагностика состава полупроводниковых наносистем методом сканирующей оже-микроскопии учебно-методическое пособие
per: Николичев Д. Е.
Publicat: (2011)

Эволюция теории химического строения вещества А.М. Бутлерова в унитарную теорию строения химических соединений (основы единой химии) Монография
per: Сироткин О.С

Методы электронной микроскопии учебное пособие
per: Филимонова Н. И.
Publicat: (2016)

Методы зондовой микроскопии учебное пособие
per: Рыбин Н. Б.
Publicat: (2014)

Методы электронной микроскопии учебное пособие
per: Филимонова, Н. И.

Методы зондовой микроскопии учебное пособие

Толстые плёнки радиоэлектроники. Физико-технические основы, гетероструктурные среды, приложения
per: Подвигалкин В. Я.
Publicat: (2022)

Изучение электростатического поля. Эквипотенциальные поверхности методические указания к лабораторной работе № 22 по дисциплине «физика»

Основы сканирующей зондовой микроскопии
per: Корнилов В. М.
Publicat: (2011)

Методы локального анализа иэлектронная микроскопия Учебное пособие
per: Ищенко А. А.
Publicat: (2021)

Основы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
per: Морозова, К. Н.

Визуализация мест локального перегрева изоляции кабелей Статья
per: Леонов А.П

Изучение вопросов аналитической химии в рамках дополительного химического образования Статья
per: Корепанова Е.М

Быстродействующий однофотонный детектор на основе тонкой сверхпроводниковой пленки NbN монография

Изучение свойств приэлектродного слоя магнитной жидкости методом электроинтерференции
per: Бондаренко, Е. А.
Publicat: (2020)

Современные методы электронной микроскопии учебно-методическое пособие
per: Миронов С. Ю.
Publicat: (2023)

Формирование и функционирование локального регионального рынка услуг
per: Янов В. В.
Publicat: (2007)

Сочетание централизованного и локального регулирования управления трудом
per: Евсеев, А. Р.
Publicat: (2023)

Сочетание централизованного и локального регулирования управления трудом
per: Алиев, И. А.
Publicat: (2023)

Основы силовой электроники

Поверхности учебное пособие
per: Быкова Т. Л.
Publicat: (2021)

Поверхности учебное пособие
per: Кондратьева, Т. М.

Квантовая эффективность сверхпроводникового однофотонного детектора на основе тонкой пленки NbN монография

Параллельно-рекурсивные методы локального описания цифровых изображений учебное пособие
per: Мясников В. В.
Publicat: (2023)

Изучение ползучести субмикрокристаллических металлов и сплавов методом микроиндентирования: практикум
per: Перевезенцев В. Н.
Publicat: (2020)

Основы сканирующей зондовой микроскопии: метод. указания
per: Корнилов В. М.
Publicat: (2011)

Объекты использования атомной энергии
per: Пергаменщик Б. К.
Publicat: (2023)

Материалы атомной энергетики учебно-методическое пособие
per: Халдеев, В. Н.

Устройства силовой электроники учебное пособие
per: Родыгин А. В.
Publicat: (2020)

Изучение локального химического строения поверхности плазмополимеризованной пленки пентана методом атомной силовой микроскопии Статья

Ítems similars