Изучение локального химического строения поверхности плазмополимеризованной пленки пентана методом атомной силовой микроскопии Статья
Պահպանված է:
Հիմնական հեղինակ: | Жихарев А.В |
---|---|
Ձևաչափ: | Статья |
Առցանց հասանելիություն: | https://znanium.com/catalog/document?id=168782 https://znanium.com/cover/0503/503058.jpg |
Ցուցիչներ: |
Ավելացրեք ցուցիչ
Չկան պիտակներ, Եղեք առաջինը, ով նշում է այս գրառումը!
|
Նմանատիպ նյութեր
-
Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
: Волкова Е. В.
Հրապարակվել է: (2014) -
Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
: Круглов А. В.
Հրապարակվել է: (2022) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
: Елманов Г. Н.
Հրապարակվել է: (2011) - Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии монография
-
Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии монография
: Моргунов Р. Б.
Հրապարակվել է: (2018)