Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
محفوظ في:
| المؤلفون الرئيسيون: | , , , |
|---|---|
| التنسيق: | كتاب |
| منشور في: |
НБ СевКавГТУ
|
| الموضوعات: | |
| الوسوم: |
إضافة وسم
لا توجد وسوم, كن أول من يضع وسما على هذه التسجيلة!
|