Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Wedi'i Gadw mewn:
| Prif Awduron: | , , , |
|---|---|
| Fformat: | Llyfr |
| Cyhoeddwyd: |
НБ СевКавГТУ
|
| Pynciau: | |
| Tagiau: |
Ychwanegu Tag
Dim Tagiau, Byddwch y cyntaf i dagio'r cofnod hwn!
|