Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Сохранить в:
| Главные авторы: | , , , |
|---|---|
| Format: | Bog |
| Udgivet: |
НБ СевКавГТУ
|
| Fag: | |
| Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|