Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , , |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Veröffentlicht: |
НБ СевКавГТУ
|
| Schlagworte: | |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|