Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Αποθηκεύτηκε σε:
| Κύριοι συγγραφείς: | , , , |
|---|---|
| Μορφή: | Βιβλίο |
| Έκδοση: |
НБ СевКавГТУ
|
| Θέματα: | |
| Ετικέτες: |
Προσθήκη ετικέτας
Δεν υπάρχουν, Καταχωρήστε ετικέτα πρώτοι!
|