Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Guardado en:
| Autores principales: | , , , |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Publicado: |
НБ СевКавГТУ
|
| Materias: | |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|