Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Gorde:
| Egile Nagusiak: | , , , |
|---|---|
| Formatua: | Liburua |
| Argitaratua: |
НБ СевКавГТУ
|
| Gaiak: | |
| Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|