Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Enregistré dans:
| Auteurs principaux: | , , , |
|---|---|
| Format: | Livre |
| Publié: |
НБ СевКавГТУ
|
| Sujets: | |
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|