Léim chuig an ábhar

Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля

В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.

Sábháilte in:
Sonraí bibleagrafaíochta
Príomhchruthaitheoirí: Брандон Д., Каплан У., Баженов С. Л. (730), Егорова О. В. (730)
Formáid: LEABHAR
Foilsithe / Cruthaithe: НБ СевКавГТУ
Ábhair:
Clibeanna: Cuir clib leis
Níl clibeanna ann, Bí ar an gcéad duine le clib a chur leis an taifead seo!