Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Gardado en:
| Главные авторы: | , , , |
|---|---|
| Formato: | Libro |
| Publicado: |
НБ СевКавГТУ
|
| Темы: | |
| Метки: |
Engadir etiqueta
Sen Etiquetas, Sexa o primeiro en etiquetar este rexistro!
|