Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
שמור ב:
| Главные авторы: | , , , |
|---|---|
| פורמט: | ספר |
| יצא לאור: |
НБ СевКавГТУ
|
| נושאים: | |
| תגים: |
הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!
|