Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
में बचाया:
| मुख्य लेखकों: | , , , |
|---|---|
| स्वरूप: | पुस्तक |
| प्रकाशित: |
НБ СевКавГТУ
|
| विषय: | |
| टैग : |
टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
|