Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Salvato in:
| Autori principali: | , , , |
|---|---|
| Natura: | Libro |
| Pubblicazione: |
НБ СевКавГТУ
|
| Soggetti: | |
| Tags: |
Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne! !
|