Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
保存先:
| 主要な著者: | , , , |
|---|---|
| フォーマット: | 図書 |
| 出版事項: |
НБ СевКавГТУ
|
| 主題: | |
| タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|