Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Bewaard in:
| Hoofdauteurs: | , , , |
|---|---|
| Formaat: | Boek |
| Gepubliceerd in: |
НБ СевКавГТУ
|
| Onderwerpen: | |
| Tags: |
Voeg label toe
Geen labels, Wees de eerste die dit record labelt!
|