Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Na minha lista:
| Principais autores: | , , , |
|---|---|
| Formato: | Livro |
| Publicado em: |
НБ СевКавГТУ
|
| Assuntos: | |
| Tags: |
Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|