Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Сохранить в:
| Главные авторы: | , , , |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Опубликовано: |
НБ СевКавГТУ
|
| Темы: | |
| Метки: |
Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
|