Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Shranjeno v:
| Главные авторы: | , , , |
|---|---|
| Format: | Knjiga |
| Izdano: |
НБ СевКавГТУ
|
| Teme: | |
| Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|