Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Sparad:
| Huvudupphovsmän: | , , , |
|---|---|
| Materialtyp: | Bok |
| Publicerad: |
НБ СевКавГТУ
|
| Ämnen: | |
| Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|