Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Kaydedildi:
| Asıl Yazarlar: | , , , |
|---|---|
| Materyal Türü: | Kitap |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
НБ СевКавГТУ
|
| Konular: | |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|