Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Збережено в:
| Автори: | , , , |
|---|---|
| Формат: | Книга |
| Опубліковано: |
НБ СевКавГТУ
|
| Предмети: | |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|