Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
В книге детально и четко описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Đã lưu trong:
| Những tác giả chính: | , , , |
|---|---|
| Định dạng: | Sách |
| Được phát hành: |
НБ СевКавГТУ
|
| Những chủ đề: | |
| Các nhãn: |
Thêm thẻ
Không có thẻ, Là người đầu tiên thẻ bản ghi này!
|