Пропуск в контексте

Технологии многоуровневой металлизации интегральных микросхем учебное пособие

Рассмотрена совокупность вопросов, связанных с созданием многоуровневых систем металлизации интегральных микросхем по технологическим маршрутам, обобщенно называемым Back-End-Of-Line (BEOL). Охарактеризованы проблемы и решения создания проводящих и металлических тонких пленок, пленок диэлектрических...

תיאור מלא

שמור ב:
מידע ביבליוגרפי
מחבר ראשי: Васильев, В. Ю. (070)
פורמט: Книга
נושאים:
גישה מקוונת:Перейти к просмотру издания
תגים: הוספת תג
אין תגיות, היה/י הראשונ/ה לתייג את הרשומה!