Пропуск в контексте

Технологии многоуровневой металлизации интегральных микросхем учебное пособие

Рассмотрена совокупность вопросов, связанных с созданием многоуровневых систем металлизации интегральных микросхем по технологическим маршрутам, обобщенно называемым Back-End-Of-Line (BEOL). Охарактеризованы проблемы и решения создания проводящих и металлических тонких пленок, пленок диэлектрических...

全面介绍

Сохранить в:
书目详细资料
主要作者: Васильев, В. Ю. (070)
格式: Книга
主题:
在线阅读:Перейти к просмотру издания
标签: 添加标签
没有标签, 成为第一个标记此记录!