Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов практикум
В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины,...
Enregistré dans:
Format: | Книга |
---|---|
Sujets: | |
Accès en ligne: | Перейти к просмотру издания |
Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|
Documents similaires
-
Модели электронных компонентов учебное пособие
par: Ефимов, И. П. -
Тестирование компонентов и комплексов программ учебник
par: Липаев, В. В. -
Аспекты проектирования электронных схем на основе микроконтроллеров учебное пособие для спо
par: Слесарев, А. И. -
Диагностика автомобиля с использованием программного обеспечения ESI[tronic] 2.0 и тестера KTS 540 пособие
par: Булавицкий, Д. В. -
Основы конструирования высокоскоростных электронных устройств. Краткий курс «белой магии»
par: Белоус, А. И.