Пропуск в контексте

Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов практикум

В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины,...

Fuld beskrivelse

Сохранить в:
Bibliografiske detaljer
Format: Книга
Fag:
Online adgang:Перейти к просмотру издания
Tags: Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!