Weiter zum Inhalt

Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов практикум

В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины,...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Format: Книга
Schlagworte:
Online Zugang:Перейти к просмотру издания
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!