Joan edukira

Внутрисхемное тестирование цифровых электронных компонентов практикум

В практикуме рассматриваются основные приемы внутрисхемного тестирования цифровых электронных компонентов, приводятся задания по темам лабораторных работ. Издание предназначено для студентов, обучающихся по направлению 09.03.01 «Информатика и вычислительная техника» (профиль «Вычислительные машины,...

Deskribapen osoa

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
Formatua: Книга
Gaiak:
Sarrera elektronikoa:Перейти к просмотру издания
Etiketak: Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!