Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Guardat en:
| Autors principals: | , |
|---|---|
| Format: | Статья |
| Idioma: | Russian |
| Publicat: |
2019
|
| Matèries: | |
| Accés en línia: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Etiquetes: |
Afegir etiqueta
Sense etiquetes, Sigues el primer a etiquetar aquest registre!
|