Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Guardado en:
| Autores principales: | , |
|---|---|
| Formato: | Статья |
| Lenguaje: | Russian |
| Publicado: |
2019
|
| Materias: | |
| Acceso en línea: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Etiquetas: |
Agregar Etiqueta
Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!
|