Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Tallennettuna:
| Päätekijät: | , |
|---|---|
| Aineistotyyppi: | Статья |
| Kieli: | Russian |
| Julkaistu: |
2019
|
| Aiheet: | |
| Linkit: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Tagit: |
Lisää tagi
Ei tageja, Lisää ensimmäinen tagi!
|