Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Enregistré dans:
| Auteurs principaux: | , |
|---|---|
| Format: | Статья |
| Langue: | Russian |
| Publié: |
2019
|
| Sujets: | |
| Accès en ligne: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Tags: |
Ajouter un tag
Pas de tags, Soyez le premier à ajouter un tag!
|