Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Sábháilte in:
| Príomhchruthaitheoirí: | , |
|---|---|
| Formáid: | Статья |
| Teanga: | Russian |
| Foilsithe / Cruthaithe: |
2019
|
| Ábhair: | |
| Rochtain ar líne: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Clibeanna: |
Cuir clib leis
Níl clibeanna ann, Bí ar an gcéad duine le clib a chur leis an taifead seo!
|