Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
में बचाया:
| मुख्य लेखकों: | , |
|---|---|
| स्वरूप: | Статья |
| भाषा: | Russian |
| प्रकाशित: |
2019
|
| विषय: | |
| ऑनलाइन पहुंच: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| टैग : |
टैग जोड़ें
कोई टैग नहीं, इस रिकॉर्ड को टैग करने वाले पहले व्यक्ति बनें!
|