Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Na minha lista:
| Главные авторы: | , |
|---|---|
| Formato: | Статья |
| Idioma: | Russian |
| Publicado em: |
2019
|
| Assuntos: | |
| Acesso em linha: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Tags: |
Adicionar Tag
Sem tags, seja o primeiro a adicionar uma tag!
|