Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Shranjeno v:
| Главные авторы: | , |
|---|---|
| Format: | Статья |
| Jezik: | Russian |
| Izdano: |
2019
|
| Teme: | |
| Online dostop: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Oznake: |
Označite
Brez oznak, prvi označite!
|