Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Sparad:
| Huvudupphovsmän: | , |
|---|---|
| Materialtyp: | Статья |
| Språk: | Russian |
| Publicerad: |
2019
|
| Ämnen: | |
| Länkar: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Taggar: |
Lägg till en tagg
Inga taggar, Lägg till första taggen!
|