Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Kaydedildi:
| Asıl Yazarlar: | , |
|---|---|
| Materyal Türü: | Статья |
| Dil: | Russian |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
2019
|
| Konular: | |
| Online Erişim: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Etiketler: |
Etiketle
Etiket eklenmemiş, İlk siz ekleyin!
|