Основные методы анализа цифровых и аналоговых микросхем в радиоэлектронной промышленности
В связи с повсеместным развитием полупроводникового производства остро встает вопрос повышения производительности процессов. Так как одним из основных процессов при производстве любых электронных устройств является их тестирование, то одна из основных задач состоит в сокращении времени на проведение...
Збережено в:
| Автори: | , |
|---|---|
| Формат: | Статья |
| Мова: | Russian |
| Опубліковано: |
2019
|
| Предмети: | |
| Онлайн доступ: | https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/10074 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|