Перейти до змісту

THE GROWTH OF INALN/ SI HETEROSTRUCTURES WITH A HIGH CONTENT OF IN

InAlN films on Si (111) were obtained by the ion-beam deposition with various technological growth parameters. The results of the study of grown films by the scanning electron microscopy were used to identify the conditions for obtaining InAlN continuous films. Due to the mismatch of the lattice par...

Повний опис

Збережено в:
Бібліографічні деталі
Автори: Lapin, V. A., Лапин, В. А., Kasyanov, I. V., Касьянов, И. В.
Формат: Статья
Мова:Russian
Опубліковано: 2023
Предмети:
Онлайн доступ:https://dspace.ncfu.ru/handle/20.500.12258/23455
Теги: Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!