Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Gorde:
Egile nagusia: | |
---|---|
Beste egile batzuk: | , |
Formatua: | Книга |
Hizkuntza: | Russian |
Argitaratua: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
Sarrera elektronikoa: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
Etiketak: |
Etiketa erantsi
Etiketarik gabe, Izan zaitez lehena erregistro honi etiketa jartzen!
|
Gaia: | В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизического факультета ННГУ в качестве пособия при подготовке и проведении лабораторных работ по специализированному курсу «Сканирующая зондовая микроскопия». |
---|---|
Alearen deskribapena: | Рекомендовано методической комиссией радиофизического факультета для студентов ННГУ, обучающихся по направлениям подготовки 011800 «Радиофизика и электроника» 010400 «Информационные технологии» 654700 «Информационная безопасность телекоммуникационных систем» |
Deskribapen fisikoa: | 17 с. |
Hartzaileak: | Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Физика |
Bibliografia: | Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань |