Пропуск в контексте

Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум

В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...

Полное описание

Сохранить в:
Библиографические подробности
Главный автор: Волкова Е. В.
Другие авторы: Забавичев И. Ю., Оболенский С. В.
Формат: Книга
Язык:Russian
Опубликовано: Нижний Новгород ННГУ им. Н. И. Лобачевского 2014
Online-ссылка:https://e.lanbook.com/book/152815
https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg
Метки: Добавить метку
Нет меток, Требуется 1-ая метка записи!
LEADER 02594nam0a2200289 i 4500
001 152815
003 RuSpLAN
005 20221220174104.0
008 221220s2014 ru gs 000 0 rus
040 |a RuSpLAN 
041 0 |a rus 
044 |a ru 
080 |a 53.082, 538.95 
084 |a 32.85  |2 rubbk 
245 0 0 |a Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии  |b практикум  |c Волкова Е. В.,Забавичев И. Ю.,Оболенский С. В. 
260 |a Нижний Новгород  |b ННГУ им. Н. И. Лобачевского  |c 2014 
300 |a 17 с. 
500 |a Рекомендовано методической комиссией радиофизического факультета для студентов ННГУ, обучающихся по направлениям подготовки 011800 «Радиофизика и электроника» 010400 «Информационные технологии» 654700 «Информационная безопасность телекоммуникационных систем» 
504 |a Библиогр.: доступна в карточке книги, на сайте ЭБС Лань 
520 8 |a В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизического факультета ННГУ в качестве пособия при подготовке и проведении лабораторных работ по специализированному курсу «Сканирующая зондовая микроскопия». 
521 8 |a Книга из коллекции ННГУ им. Н. И. Лобачевского - Физика 
100 1 |a Волкова Е. В. 
700 1 |a Забавичев И. Ю. 
700 1 |a Оболенский С. В. 
856 4 |u https://e.lanbook.com/book/152815 
856 4 8 |u https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg 
953 |a https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg