Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
Сохранить в:
Hovedforfatter: | Волкова Е. В. |
---|---|
Andre forfattere: | Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. |
Format: | Книга |
Sprog: | Russian |
Udgivet: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
Online adgang: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
Tags: |
Tilføj Tag
Ingen Tags, Vær først til at tagge denne postø!
|
Lignende værker
-
Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
af: Круглов А. В.
Udgivet: (2022) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
af: Елманов Г. Н.
Udgivet: (2011) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
af: Кузнецова Ю. В.
Udgivet: (2023) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
af: Кузнецова, Ю. В. - Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии монография