Исследование рельефа поверхности полупроводниковой hemt-структуры методом атомно-силовой микроскопии практикум
В пособии описаны физические принципы работы атомно-силового сканирующего зондового микроскопа. Изложена методика анализа топографии поверхности полупроводниковой структуры с использованием контактного способа измерений. Практикум предназначен для студентов дневного отделения магистратуры радиофизич...
保存先:
第一著者: | Волкова Е. В. |
---|---|
その他の著者: | Забавичев И. Ю., Оболенский С. В. |
フォーマット: | Книга |
言語: | Russian |
出版事項: |
Нижний Новгород
ННГУ им. Н. И. Лобачевского
2014
|
オンライン・アクセス: | https://e.lanbook.com/book/152815 https://e.lanbook.com/img/cover/book/152815.jpg |
タグ: |
タグ追加
タグなし, このレコードへの初めてのタグを付けませんか!
|
類似資料
-
Исследование поверхности твердых тел методом атомно-силовой микроскопии: Описание лабораторной работы
著者:: Круглов А. В.
出版事項: (2022) -
Исследование топологии поверхности методом сканирующей атомно-силовой микроскопии: лабораторный практикум учебное пособие для вузов
著者:: Елманов Г. Н.
出版事項: (2011) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
著者:: Кузнецова Ю. В.
出版事項: (2023) -
Применение атомно-силовой микроскопии в научно-исследовательской работе учебное пособие
著者:: Кузнецова, Ю. В. - Магнетизм на острие иглы. Основы атомно-силовой и магнитно-силовой микроскопии монография